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Rasterkraft- |
Die Rasterkraftmikroskopie (RKM, auch AFM von engl. „Atomic Force Microscopy“) ist ein verhältnismäßig junge Technik, die bei verhältnismäßig überschaubarem technischen Aufwand enorme Vergrößerungen ermöglicht. Das Geheimnis vieler interessanter Abbildungen liegt somit nicht in der Methode allein, sondern vor allem auch in der Präparation und der Beherrschung des angwandten Meßmodus. Informationen über die Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie und über den Pulsed Force Mode finden sich im folgenden Abschnitt. Die Galerie zeigt rasterkraftmikroskopische Abbildungen mit Hintergrundinformationen.
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