Rasterkraftmikroskopie


Rastertunnel-
mikroskopie

Die in den 1980er Jahren von Binnig und Rohrer entwickelte Rastertunnelmikroskopie stellt eine Methode dar, Oberflächen atomar abzubilden, ohne daß diese extremen Bedingungen ausgesetzt werden. Die große Zahl an Anwendungsmöglichkeiten führte innerhalb kurzer Zeit sowohl zu Geräten, die im Subnanometer-Bereich einzelne Atom- und Molekülorbitale abbilden können, als auch zu Varianten, die sich universell zur Untersuchung einer Vielzahl von Oberflächen eignen. Gemeinsam mit der Rasterkraftmikroskopie wird die Rastertunnelmikroskopie unter dem Begriff der Rastersondenmikroskopie zusammengefaßt.

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